id: 9622
Title: Діелектрична спектроскопія, як метод ідентифікації smc* фази у рідкому кристалі
Authors: Шевчук О.Ф.
Keywords: сегнетоелектричний рідкий кристал, діелектрична проникність, діелектрична спектроскопія, SmC* фаза
Date of publication: 2015-11-30 11:04:10
Last changes: 2015-11-30 11:04:10
Year of publication: 2015
Summary: Показано, що діелектрична спектроскопія сегнетолектричного
рідкого кристалу (СЕРК) дозволяє встановити наявність SmC* фази, як у чистому
СЕРК, так і при наявності домішки. Відзначено, що основними характеристиками SmC*
фази є наявність відповідного релаксацийного процесу та стрибка провідності при
зменшенні температури.
URI: http://socrates.vsau.org/repository/getfile.php/9622.pdf
Publication type: Статті
Publication: ВІСНИК КНУТД Серія «Технічні науки». - 2015. - №5 (90). - С. 226-232.
In the collections : 2015 р./ Публікації співробітників у виданнях інших установ/
Published by: Адміністратор
File : 9622.pdf Size : 493609 byte Format : Adobe PDF Access : For all
| |
|
|
