id: 9622
Назва: Діелектрична спектроскопія, як метод ідентифікації smc* фази у рідкому кристалі
Автори: Шевчук О.Ф.
Ключові слова: сегнетоелектричний рідкий кристал, діелектрична проникність, діелектрична спектроскопія, SmC* фаза
Дата публікації: 2015-11-30 11:04:10
Останні зміни: 2015-11-30 11:04:10
Рік видання: 2015
Аннотація: Показано, що діелектрична спектроскопія сегнетолектричного
рідкого кристалу (СЕРК) дозволяє встановити наявність SmC* фази, як у чистому
СЕРК, так і при наявності домішки. Відзначено, що основними характеристиками SmC*
фази є наявність відповідного релаксацийного процесу та стрибка провідності при
зменшенні температури.
URI: http://socrates.vsau.org/repository/getfile.php/9622.pdf
Тип виданя: Статті
Видавництво: ВІСНИК КНУТД Серія «Технічні науки». - 2015. - №5 (90). - С. 226-232.
Розташовується в колекціях : 2015 р./ Публікації співробітників у виданнях інших установ/
Ким внесений: Адміністратор
Файл : 9622.pdf Розмір : 493609 байт Формат : Adobe PDF Доступ : Загально доступний
| |
|
|
